1. 什么是“隱裂”
隱裂是晶體硅太陽能組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細(xì)微破裂。晶硅組件由于其自身晶體結(jié)構(gòu)的特性，十分容易發(fā)生破裂。
在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因，可歸納為硅片上產(chǎn)生了機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力?，F(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發(fā)展，降低了電池片防止機(jī)械破壞的能力，更容易產(chǎn)生隱裂。
2. “隱裂”對組件性能的影響
晶硅太陽能電池的結(jié)構(gòu)，電池片產(chǎn)生的電流主要靠表面相互垂直的主柵線和細(xì)柵線收集和導(dǎo)出。因此，當(dāng)隱裂（多為平行于主柵線的隱裂）導(dǎo)致細(xì)柵線斷裂時(shí)，電流將無法被有效輸送至主柵線，從而導(dǎo)致電池片部分乃至整片失效，還可能造成碎片、熱斑等，同時(shí)引起組件的功率衰減。
垂直于主柵線的隱裂幾乎不對細(xì)柵線造成影響，因此造成電池片失效的面積幾乎為零。
有研究顯示，太陽能組件中如果某個(gè)電池的失效面積在8%以內(nèi)，則對組件的功率影響不大，并且太陽能組件中2/3的斜條紋隱裂對組件的功率沒有影響。所以說，雖然隱裂是晶硅電池常見的問題，但也不必過度擔(dān)心。
3. 識(shí)別“隱裂”的方法
EL是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺陷檢測設(shè)備，是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定太陽能組件的缺陷。具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點(diǎn)。
4. 形成“隱裂”的原因
外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運(yùn)、安裝、施工等過程中會(huì)受外力，當(dāng)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、設(shè)備故障或操作不當(dāng)時(shí)會(huì)造成隱裂。
高溫：電池片在低溫下沒有經(jīng)過預(yù)熱，然后在短時(shí)間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會(huì)造成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。
原材料：原材料的缺陷也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。
5. 預(yù)防光伏組件隱裂的要點(diǎn)
在生產(chǎn)過程中以及后續(xù)的存放、運(yùn)輸、安裝中避免電池片受到不當(dāng)?shù)耐饬槿耄沧⒁鈨?chǔ)存環(huán)境溫度變化范圍。
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